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光学膜厚仪
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非接触光学膜厚检测仪
添加时间:2017-02-19





JFD-2000是一台非接触式膜厚检测仪,采用光学干涉的原理检测膜厚。可以测量同时可测干膜和湿膜。检测范围为0.5微米-100微米。

 

一、   仪器检测原理外部光路结构:

 

光从光源发出,经过光纤导到反射探头打出,聚焦在在样品上。薄膜上下表面都会产生反射光,如下图所示:


两种反射光由反射探头采集,并由另一根光纤导入到分光结构,进行光谱排列。测量出干涉条纹:测量谱图:通过光谱软件,将样品放置于检测位置,

可以得到反射率谱线,如下图所示:

 

再经过软件内部处理,得到干涉条纹的

极大值和极小值。

得到极值后再通过厚度公式,即可算出

膜层厚度。

二、    仪器适用范围l  湿膜厚度检测。l  干膜、硬涂层厚度检测。l  玻璃、塑料、凝胶、光刻胶、电介质厚度检测。l  汽车工业中薄膜、光油、底漆厚度检测。l  医疗设备中药囊、药品覆膜、包装薄膜厚度检测。l  光伏产业中透明导电氧化膜、减反射膜厚度检测。l  食品包装中卷式薄膜、液体隔离膜厚度检测。三、    样品要求l  薄膜在200-1100nm内的某一波段可部分透光。l  薄膜厚度范围:0.5um-100um(不同厚度范围采用不同配置)。l  基底表面和薄膜表面平整光洁。四、    产品配置l  主控制箱内部包含光源、光谱仪、运动系统控制器。

通过USB线与电脑连接。

12V3A供电。

 

片状支架通过光纤与控制箱连接。

 

五、   仪器主要参数

六、   重复性、重现性数据报告

重复性说明:

样品不动,重复测量50次的厚度值。

重现性说明:

检测样品点不变,反复拿出样品和放入样品检测50次的厚度值。 

 

七、   仪器操作

检测操作,详见操作说明书和软件说明书。


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